识别温度波动。
在明确的测量条件下观察温度变化，辅助分析工艺偏差及其发生阶段。
及时发现变化产品外观与应用场景示意
核心性能以光谱，感知温度变化。
光谱范围
900–1700nm
覆盖近红外波段，采集目标热辐射信息。光谱分辨率
1nm 级
分辨更细微的光谱特征。响应时间
≤50ms
及时响应工艺中的温度变化。温度分辨率
0.01°C
分辨细微的温度变化。**温度分辨率不等于测量准确度。实际测量性能需结合材料特性、光学配置、测量工况及校准条件评估。
走进精密制造现场八类场景，同样严谨。
精密工艺，
需要更清晰的温度视角。
从晶圆表面到高温热处理，围绕材料、工艺与测量条件，让温度信息服务于每一次工程判断。
工艺难点
晶圆工艺对表面洁净度与完整性要求严格，需要在不接触目标的情况下了解温度变化。
测量价值
观察热循环过程，为工艺参数调整与试验对比提供温度依据。
应用要点：需结合材料表面特性、观测光路与校准条件评估。
从热辐射，到温度信息以光谱，理解变化。
红外光谱测温仪
读懂光谱，
洞察温度变化。
物体的热辐射分布在不同波长上。通过采集和分析光谱信息，结合材料特性与校准条件，可以研究目标在不同工况下的温度变化。
01
非接触测量无需将测温元件直接接触被测表面。
02
可编程波段选择根据材料与测量任务，配置适合的观测波段。
03
针对实际工况校准结合材料、光路和工况，建立测量与参考温度的对应关系。
探索近红外光谱范围
nm当前波长
可编程波段选择900—1700 nm
原理示意：曲线仅用于说明光谱概念，不代表实测数据，也不用于计算温度。
让温度信息，服务工艺判断看得清，才更有依据。
让工艺调整有据可依。
对比不同试验中的温度变化，为工艺开发与参数优化提供参考依据。
支持工艺优化研究过程一致性。
基于经过校准的测量结果开展重复性研究，分析影响工艺一致性的因素。
提升制造严谨性实际应用效果取决于工艺条件、校准方案与系统集成，不承诺固定的良率、能耗或成本改善幅度。
产品介绍片180 秒 · 中文解说
换个视角，
看见精密制造。
应用画面为场景示意产品资料三种风格，同一份严谨。
精密之美，定格于此。
以三种视觉风格，呈现精密测温。
查看并下载 4K 产品海报（英文原版）。
产品外观及应用场景均为示意图下载中文介绍片
从实际工况出发，明确测温任务
从工况出发，
明确测温需求。
整理被测材料、温度范围与光路条件，
为后续选型和技术沟通做好准备。